MSfree hat geschrieben: 15.04.2020 18:03:11
Seit 2005 hat sich die Strukturbreite von ca. 90nm auf heute 11-15nm verringert. Von Faktor 200 kann also gar keine Rede sein.
Stimmt – hab auch länger überlegt, ob ich es so schreibe. Denn wenn man’s
genau nehmen wollte, käme man eben neben den Strukturgrößen über Zellenaufbau zu gespeicherten Ladungen, notwendigen Spannungen, Kristallographie, Festkörperphysik, … – und das ist die Stelle, an der die Komplexität für die beabsichtigte Aussage „guck’ dir einfach an, wieviel damals und wieviel heute auf dem gleichen Raum untergebracht wird und überleg’ mal, ob das heute nicht vielleicht aus
diesem Grund empfindlicher und weniger dauerhaft sein könnte, statt den Herstellern wild Dinge anzudichten!“ nicht mehr völlig gerechtfertigt erscheint, ganz abgesehen davon, dass ich das selbst nicht lückenlos herleiten kann. Deswegen diese für dich leider unzumutbare Vereinfachung. Aber du warst ja auch nicht angesprochen
MSfree hat geschrieben: 15.04.2020 18:03:11
500MB vor 20 Jahren?
Ich habe keine Ahnung mehr, wann ich meinen ersten 64MB-Stick hatte. Es ist auch nicht wichtig für die Aussage, die ich getätigt haben wollte: der
deutlich ältere 500MB-Stick wurde vermutlich mit erheblich weniger Daten insgesamt beschrieben, als der
deutlich jüngere, aber doch nicht zu junge, 128GB-Stick.
MSfree hat geschrieben: 15.04.2020 18:03:11
Naja, selbst, wenn du jeden Tag ein Image auf so einen Stick ziehst und da gar kein Wearlevelling vorhanden sein sollte, kann man den Stick mindestens 2000 Mal (eher 10000 Mal) beschreiben, was 5 - 27 Jahre dauert, bis er verschlissen ist.
Nein. Bei 256kB Blockgröße, die ich nun für ’nen 8GB-Stick einfach mal so annehme, reicht theoretisch ein einmaliges Beschreiben mit den richtig falschen Parametern. Praktisch bekommt man’s in unter 10 Versuchen kaputt – zumindest ist mir das mit μSD-Karten und dd von /dev/null und /dev/urandom recht zuverlässig gelungen.